Number of the records: 1
Metrological aspects of length measurements on the nanoscale
- 1.0335707 - ÚPT 2010 CZ eng A - Abstract
Klapetek, P. - Valtr, M. - Campbellova, A. - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Metrological aspects of length measurements on the nanoscale.
[Metrologické zabezpečení měření délek v nanoměřítku.]
NANOCON 2009 - 1st Conference with International Participation. Ostrava: TANGER, s.r.o, 2009. s. 25. ISBN 978-80-87294-12-3.
[NANOCON 2009. 20.10.2009-22.10.2009, Rožnov pod Radhoštěm]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0180098
Number of the records: 1