Mapping electronic properties of the thin films for solar cells with nanometer resolution

0327259 - FZÚ 2010 RIV JP eng C - Conference Paper (international conference)
Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Mates, Tomáš - Honda, Shinya - Čermák, Jan - Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Stuchlíková, The-Ha - Šípek, Emil - Kočka, Jan
Mapping electronic properties of the thin films for solar cells with nanometer resolution.
[Mapování elektronických vlastností tenkých vrstev pro sluneční články s nanometrovým rozlišením.]
Proceedings of the 4th Workshop on the Future Direction of Photovoltaics. Tokyo: Japan Society for the Promotion of Science, 2008, s. 62-66.
[Workshop on the Future Direction of Photovoltaics /4./. Aogaku Kaikan, Tokyo (JP), 06.03.2008-07.03.2008]
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : silicon * thin films * photovoltaics
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism

Mapping local structural and electronic properties has proven to be a powerful research tool for the development of the future solar cells for which the nanostructured heteromaterials offer a rich field of possibilities. Finally, a new approach of designing the solar cell structures in order to use the local fields in self-assembled nanostructures was proposed.

Mapování lokálních strukturních a elektronických vlastností se ukázalo jako mocný experimentální nástroj pro vývoj budoucích slunečních článků pro ktereé nanostrukturní heteromateriály nabízejí bohaté pole možností. Byl předložen nový přístup založený na využití lokálních polí v samo-uspořádaných nanostrukturách.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0174113