Number of the records: 1
Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy
- 1.0319707 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Journal Article
Poruba, Aleš - Holovský, Jakub - Purkrt, Adam - Vaněček, Milan
Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy.
[Pokročilá optická charakterizace neuspořádáných polovodičů pomocí Fourierovské fotovodivostní spektroskopie.]
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 354, 19-25 (2008), s. 2421-2425. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
R&D Projects: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
EU Projects: European Commission(XE) 19670 - ATHLET; European Commission(XE) 38885 - SE-POWERFOIL; European Commission(XE) 509178 - LPAMS
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : silicon * solar cells * photovoltaics * band structure * plasma deposition * defects * Monte Carlo simulations * absorption * optical spectroscopy * FTIR
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.449, year: 2008
The paper summarizes progress in the Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) since 2001 when it was introduced for the first time for evaluation of the spectral dependence of the optical absorption coefficient in microcrystalline silicon thin films. We concentrate on the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for a correct data interpretation of various thin films and solar cell structures. We show how the measured and finally evaluated absorption spectra differ in case of single junction amorphous and microcrystalline silicon solar cells as well as for a micromorph tandem. The key issue of the tandem structure diagnostics is a separation of FTPS signals from amorphous and microcrystalline parts of a stacked structure and their correct interpretation. For an appropriate simulation of the light propagation within the structure and confirmation of our measuring approach the computer model cell has been used.
Článek shrnuje vývoj Fourierovské fotovodivostní spektroskopie od roku 2001 kdy byla poprvé použita pro vyhodnocení spektrální závislosti optických absorpčních koeficientů mikrokrystalických křemíkových tenkých filmů. Zaměřujeme se na vhodné měřící podmínky a vyhodnocovací postupy pro správnou interpretaci dat různých tenkých vrstev a solárních článků. Ukazujeme jak se měřená a vyhodnocená absorpční spektra liší v případě amorfních a mikrokrystalických solárních článků a též v případně tandemového článku založeného na mikromorfním křemíku. Pro charakterizace tandemové struktury je klíčové oddělení a správná interpretace FTPS signálu z amorfní a mikrokrystalické části. Pro simulaci šíření světla uvnitř struktury a potvrzení našeho měřícího postupu byl použit počítačový model.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0168789
Number of the records: 1