Characterization of titanyl phthalocyanine films by the surface photovoltage method

0319421 - ÚMCH 2009 RIV DE eng C - Conference Paper (international conference)
Toušková, J. - Toušek, J. - Drabik, M. - Polonskyi, O. - Remeš, Zdeněk - Hanuš, J. - Cimrová, Věra - Slavinska, D. - Biederman, H. - Zachary, A. M. - Choi, Y. - Hanley, L.
Characterization of titanyl phthalocyanine films by the surface photovoltage method.
[Charakterizace tenkých titanyl phthalocyaninových filmů metodou povrchového fotonapětí.]
Proceedings. Munich: WIP-Renewable Energies Munich, 2008 - (Lincot, D.; Ossenbrink, H.), s. 574-577. ISBN 978-3-936338-24-9.
[European Photovoltaic Solar Energy Conference /23./. Valencia (ES), 01.09.2008-05.09.2008]
R&D Projects: GA AV ČR KJB100100623; GA MŠMT(CZ) 1M06031
Institutional research plan: CEZ:AV0Z40500505; CEZ:AV0Z10100521
Keywords : surface photovoltage * titanyl phthalocyanine * diffusion lenght
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism

Titanyl phthalocyanine (TiOPc) thin films (prepared using evaporation or surface polymerization by ion-assisted deposition - SPIAD) were investigated by the surface photovoltage method. For both type of the samples, the thickness of the space charge region was higher than that of the bulk, and also similar exciton diffusion lengths at about 15 nm were determined. The absorption coefficients evaluated from measurement of the optical transmission and reflection were used for the fitting of experimental data.

Tenké titanylflalocyaninové vrstvy (připravené napařováním nebo povrchovou polymerací za přítomnosti iontů – SPIAD) byly studovány metodou měření povrchového fotonapětí (SPV). Pro oba typy vzorků byla zjištěna tloušťka prostorového náboje větší než tloušťka zbylého objemu a určeny podobné hodnoty difuzní délky excitonů (ca. 15 nm). Pro fitování experimentálních dat byly použity absorpční koeficienty získané z měření spekter optické propustnosti a odrazivosti.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0168565