0316218 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Journal Article
Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Perez, R. - Morita, S.
Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy.
[Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil.]
Science. Roč. 322, č. 5900 (2008), 413-417. ISSN 0036-8075. E-ISSN 1095-9203
R&D Projects: GA AV ČR IAA1010413
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : AFM * atomic manipulation * DFT simulation
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 28.103, year: 2008

Here, we report the assembling of complex atomic patterns at room temperature by the vertical interchange of atoms between the tip apex of an atomic force microscope and a semiconductor surface.

V práci prezentujeme vytvoření komplexního atomárního vzorku při pokojové teplotě pomocí vertikální záměny atomu mezi hrotem mikroskopu a polovodičovým povrchem.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0166209