Number of the records: 1  

RBS, UV-VIS and XPS characterization of 40 keV Ni+ implanted PEEK, PET and PI

  1. 1.
    0315789 - ÚJF 2009 DE eng A2 - Proceedings Abstract
    Macková, Anna - Bočan, Jiří - Khaibullin, R. I. - Švorčík, V. - Slepička, P. - Siegel, J. - Valeev, V. F.
    RBS, UV-VIS and XPS characterization of 40 keV Ni+ implanted PEEK, PET and PI.
    [RBS, UV-VIS a XPS charakterizace Ni+ 40 keV implantovaných polymerů PEEK, PET a PI.]
    16th International Conference on Ion Beam Modification of Materials Book of Abstracts. Dresden: Institute of Ion Beam Physics and Materials Research, Forschungzentrum Dresden-Rossendorf, 2008. s. 317-317.
    [16th International Conference on Ion Beam Modification of Materials. 31.08.2008-05.09.2008, Dresden]
    R&D Projects: GA AV ČR(CZ) KJB100480601; GA MŠMT(CZ) LC06041
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z10480505
    Keywords : ion implantation in polymers * TRIDYN * Ion Beam Analysis * UV-VIS, XPS
    Subject RIV: JI - Composite Materials

    Polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polyethyleneterephtalate (PET) were implanted with 40 keV Ni+ ions at room temperature at fluences from 1,0 . 1016 ions cm-2 to 1,5 . 1017 ions cm-2 and at different ion currents from 4microA to 10microA. The depth profiles of implanted Ni atoms determined by RBS technique are compared with those predicted by SRIM and TRIDYN codes. Hydrogen depletion as a function of the ion fluence was determined by ERDA technique and compositional and structural changes of the polymers were characterized by UV-VIS and XPS methods. The implanted profiles differ significantly from those predicted by the SRIM code and for lower fluences they can satisfactorily be described by the TRIDYN simulation. A significant hydrogen escape is observed from the polymer surface layer together with significant changes in the surface layer composition. UV-VIS results indicate an increase in the concentration and conjugation of double bonds.

    Polyimid (PI), polyetereterketon (PEEK)a polyetyléntereftalát (PET) byly implantovány ionty Ni+, energie 40 keV při pokojové teplotě s toky iontů 1,0 . 1016 iontů cm-2 až 1,5 . 1017 iontů cm-2 a při různých proudových hustotách 4 až 10 mikroA.cm-2. Hloubkové profily implantovaného Ni byly měřeny metodou RBS a srovnány se simulovanými profily softwarem SRIM 2006 a TRIDYN. Úbytek vodíku v závislosti na toku iontů byl stanoven metodou ERDA a strukturální změny implantovaných polymerů zkoumala UV-VIS spektroskopie a XPS. Ni implantované profily se významně liší od simulovaných profilů pomocí SRIM 2006, avšak pro nižší toky iontů lze profil uspokojivě simulovat softwarem TRIDYN. Významný únik vodíku z implantované vrstvy je pozorován souběžně z výraznými změnami celkového složení a struktury modifikované vrstvy. UV-VIS analýza potvrdila zvýšení koncentrace dvojných vazeb po implantaci.
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0165889

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.