Number of the records: 1  

Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů

  1. 1.
    0308441 - ÚPT 2008 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Zobrazení hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů.
    Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 37. ISBN N.
    [Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160925

     
     
Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.