Number of the records: 1
STM topografie velmi tenkých vrstev Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. připravených laserovou ablací
- 1.0304060 - URE-Y 20020115 CZ cze I - Internal Report
Zeipl, Radek - Lošťák, P. - Jelínek, Miroslav - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
STM topografie velmi tenkých vrstev Bi2Te3 připravených laserovou ablací.
[STM topography of very thin Bi2Te3 layers prepared by laser ablation.]
[Praha]: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2002. 1 s. Třetí seminář o metodách blízkého pole. s. 16
R&D Projects: GA ČR GA202/02/0098
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : thin films * nanotechnology * materials properties
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
U velmi tenkých vrstev Bi2Te3 vrstev, přpravených laserovou ablací, jsou prezentovány STM topografie vrstev v závislosti na podmínkách přípravy. Výsledky jsou korelovány s parametry jako je pohyblivost nosičů a stechiometrie vrstev.
STM topography of very thin Bi2Te3 layers, prepared by laser ablation, as a function of deposition conditions is presented. Results are corelated with properties of Bi2Te3 layers as Hall mobility and stochiometry.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0114204
Number of the records: 1