Number of the records: 1
Charakterizace Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. pomocí AFM
- 1.0303669 - URE-Y 20000069 CZ cze I - Internal Report
Vaniš, Jan - Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
Charakterizace Bi2Te3 pomocí AFM.
[Characterisation Bi2Te3 with AFM.]
B.m.: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2000. 1 s. 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. s. 23
R&D Projects: GA ČR GA102/97/0427
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Pomocí AFM bylo pozorováno atomové rozlišení, výskyt Te vakancí a schodů na štípnutém Bi2Te3 v Te rovině.
Observation of atomic resolution, existence of Te vacancies and existence of steps on cleaved Bi2Te3 (Te plane) by AFM is presented.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0113857
Number of the records: 1