Number of the records: 1
Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-fenylsilanu)
- 1.0189115 - UMCH-V 20033069 CZ cze A - Abstract
Bonaventurová-Zrzavecká, O. - Nebojsa, A. - Navrátil, K. - Nešpůrek, Stanislav - Humlíček, J.
Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-fenylsilanu).
[Thermal depencence of elipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane).]
Sborník abstrakt. Brno: Ústav fyziky kondenzovaných látek, přírodovědecká fakulta MU, 2003. s. 16.
[Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích /10./. 23.06.2003-25.06.2003, Brno]
R&D Projects: GA AV ČR KSK4050111
Institutional research plan: CEZ:AV0Z4050913
Keywords : ellipsometric spectra * poly(methyl-phenylsilane) * degradation
Subject RIV: CD - Macromolecular Chemistry
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0084961
Number of the records: 1