Number of the records: 1  

Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-fenylsilanu)

  1. 1.
    0189115 - UMCH-V 20033069 CZ cze A - Abstract
    Bonaventurová-Zrzavecká, O. - Nebojsa, A. - Navrátil, K. - Nešpůrek, Stanislav - Humlíček, J.
    Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-fenylsilanu).
    [Thermal depencence of elipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane).]
    Sborník abstrakt. Brno: Ústav fyziky kondenzovaných látek, přírodovědecká fakulta MU, 2003. s. 16.
    [Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkumu a aplikacích /10./. 23.06.2003-25.06.2003, Brno]
    R&D Projects: GA AV ČR KSK4050111
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z4050913
    Keywords : ellipsometric spectra * poly(methyl-phenylsilane) * degradation
    Subject RIV: CD - Macromolecular Chemistry
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0084961

     
     

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.