Měření povrchových vrstev kombinací jaderných analytických metod

0185638 - UJF-V 20020150 CZ cze C - Conference Paper (international conference)
Peřina, Vratislav - Macková, Anna - Červená, Jarmila - Havránek, Vladimír - Voseček, Václav - Hnatowicz, Vladimír - Vacík, Jiří
Měření povrchových vrstev kombinací jaderných analytických metod.
[Measurements of surface layers by combination of nuclear analytic methods.]
Konference českých a slovenských fyziků /14./. Plzeň: Západočeská universita, 2002, s. 351-356. ISBN 80-7082-907-9.
[Konference českých a slovenských fyziků /14./. Plzeň (CZ), 09.09.2002-12.09.2002]
R&D Projects: GA AV ČR KSK1010104
Keywords : Rutherford backscattering spectrometry * elastic recoil detection analysis * PIXE * PIDE * NDP
Subject RIV: BG - Nuclear, Atomic and Molecular Physics, Colliders

Různé jaderné analytické metody jsou užity pro studium povrchů.

Various nuclear analytic methods are used in the surface studies.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0082025