Number of the records: 1
Iontové, sondové a speciální metody
- 1.0181500 - UFCH-W 20020238 RIV CZ cze M - Monography Chapter
Lörinčík, Jan - Bastl, Zdeněk - Šroubek, Zdeněk
Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).
[Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).]
80-200-0594-3. In: Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 147-201. Metody analýzy povrchů.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z4040901
Keywords : mass spectrometry * SIMS
Subject RIV: CF - Physical ; Theoretical Chemistry
Kapitola je věnována hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS). Jsou diskutovány všechny aspekty metody, zahrnující iontové rozprašování, tvorba sekundárních iontů včetně relevantních teorií, instrumentace, kvantitativní analýza a aplikace metody.
The chapter is devoted to all aspects of secondary ion mass spectrometry (SIMS). It covers ion sputtering, production of secondary ions and relevant theories, instrumentation, quantification and applications.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0078062
Number of the records: 1