How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior

0109083 - UPT-D 20040087 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
Jákl, Petr - Šerý, Mojmír - Ježek, Jan - Zemánek, Pavel
How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior.
[Vliv velikosti částice na její chování v blízkosti dielektrického rozhraní.]
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Optical Trapping and Optical Micromanipulation (Vol. 5514). Denver: SPIE, 2004, s. 636-642. ISBN 0-8194-5452-4. ISSN 0277-786X.
[SPIE: Optical Trapping and Optical Micromanipulation. Denver (US), 02.08.2004-06.08.2004]
R&D Projects: GA AV ČR IAA1065203
Keywords : optical tweezers * two-photon fluorescence, * particle position detection
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers

The influence of size of the trapped object on its position near the dielectric interface is studied experimentally. The trapping beam is reflected on a surface and creates weak standing wave component in resulting field distribution. This component causes unwanted jumps of the trapped particle, when the beam waist moves axially in the surface vicinity. Particles of different sizes are more and less influenced by the standing wave, respectively. The position of the trapped particle is measured with quadrant photodiode and photomultiplier tube at the same time

Experimentálně je studován vliv velikosti opticky vázaného objektu na jeho polohu poblíž dielektrického rozhraní. Chytací svazek se odráží od povrchu a vytváří slabou stojatou vlnu, která se podílí na výsledném poli. Tato komponenta způsobuje nechtěné přeskoky chycené částice, když se pas svazku pohybuje axiálně v blízkosti povrchu. Částice různých velikostí jsou ovlivňovány stojatou vlnou různou měrou. Poloha chycené částice je současně měřena kvadrantním detektorem a fotonásobičem
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0016195