0105980 - URE-Y 20040172 RIV SK eng J - Journal Article
Kinder, R. - Srnánek, R. - Hulényi, L. - Walachová, Jarmila - Tlaczala, M. - Sciana, B. - Radziewicz, D.
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method.
[Určení profilu nosičů na zešikmené GaAs struktuře pomocí PCIV metody.]
Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 55, 9-10 (2004), s. 261-264. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
R&D Projects: GA AV ČR(CZ) KSK1010104
Keywords : impurity distribution
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0013165