Characterization of erbium doped glass optical waveguide by a fine tunable semiconductor laser

0089536 - ÚFE 2008 RIV SK eng C - Conference Paper (international conference)
Ondráček, František - Salavcová, Linda - Míka, M. - Špirková, J. - Čtyroký, Jiří
Characterization of erbium doped glass optical waveguide by a fine tunable semiconductor laser.
[Charakterizace Er dopovaných optických vlnovodů pomocí jemně laditelného polovodičového laseru.]
Proceedings Measurement 2005. Bratislava: Institute of Measurement Science Slovak Academy of Sciences, 2005 - (Frollo, I.; Tyšler, M.; Juraš, V.), s. 308-311. ISBN 80-967402-8-8.
[Measurement 2005: International Conference on Measurement /5./. Smolenice (SK), 15.05.2005-19.05.2005]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA106/03/0505; GA ČR(CZ) GA106/05/0706
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20670512
Keywords : erbium * optical waveguides * optical losses * semiconductor lasers
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering

There are described some methods for characterization of the channel optical Er doped waveguides by means of a fine tunable semiconductor laser.

Jsou zde popsány metody pro charakterizaci optických kanálkových Er dopovaných vlnovodů pomocí jemně laditelného polovodičového laseru.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0150720