Number of the records: 1
Enhancement of SEM to scanning LEEM
- 1.0088945 - ÚPT 2008 RIV NL eng J - Journal Article
Müllerová, Ilona - Matsuda, K. - Hrnčiřík, Petr - Frank, Luděk
Enhancement of SEM to scanning LEEM.
[Rozšíření SEM na rastrovací LEEM.]
Surface Science. Roč. 601, č. 20 (2007), s. 4768-4773. ISSN 0039-6028. E-ISSN 1879-2758
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327; GA ČR GA202/04/0281
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : SEM * LEEM * scanning LEEM
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Impact factor: 1.855, year: 2007
Paper summarizes ways to incorporating the scanning LEEM method into a conventional SEM via introduction of the cathode lens to below the objective lens. Basic properties of the scanning LEEM are provided.
Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0150316
Number of the records: 1