Fast detection of surface recombination velocity and diffusion length for non-symmetrical c-Si structures

0055036 - FZÚ 2007 RIV DE eng C - Conference Paper (international conference)
Holovský, Jakub - Poruba, Aleš - Toušek, J. - Toušková, J. - Barinka, R. - Vaněček, Milan
Fast detection of surface recombination velocity and diffusion length for non-symmetrical c-Si structures.
[Rychlé měření rychlosti povrchové rekombinace a difúzní délky pro nesymetrické struktury krystalického křemíku.]
Proceedings of the European Photovoltaic Solar Energy Conference. Dresden: GD Joinr Research Centre, 2006 - (Poortmans, J.; Ossenbrink, H.; Dunlop, E.; Helm, P.), s. 1408-1411. ISBN 3-936338-20-5.
[European Photovoltaic Solar Energy Conference /21./. Dresden (DE), 04.09.2006-08.09.2006]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : c-Si solar cells * recombination * diffusion length * passivation
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism

In this paper we discuss using Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) for evaluation of diffusion length L and the surface recombination velocity S of crystalline silicon material by measuring the Surface Photovoltage (SPV) method. SPV-FTPS spectra are compared with the results of standard SPV technique in which sample is illuminated subsequently by monochromatic light

Publikace se zabývá aplikací Fourierovské fotovodivostní spektroskopie (FTPS) pro určení difúzní délky L a rychlosti povrchové rekombinace S u materiálů založených na krystalickém křemíku pomocí metody povrchového fotonapětí (SPV). SPV-FTPS spektra jsou srovnána s výsledky standardní SPV techniky, při které je vzorek osvětlován krok po kroku monochromatickým světlem
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0142887