0028561 - FZÚ 2006 RIV CH eng J - Journal Article
Rezek, Bohuslav - Nebel, C. E. - Stutzmann, M.
Hydrogenated diamond surfaces studied by atomic and Kelvin force microscopy.
[Hydrogenované diamantové povrchy studované pomocí mikroskopie atomární a kelvinovy síly.]
Diamond and Related Materials. Roč. 13, - (2004), s. 740-745. ISSN 0925-9635. E-ISSN 1879-0062
EU Projects: European Commission(XE) HPRN-CT-1999-00139
Grant - others:deutsche Forschungsgemenschaft(DE) NE524-2
Institutional research plan: CEZ:AV0Z1010914
Keywords : diamond crystal * surface microscopy * surface electronic properties * oxidation
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 1.670, year: 2004

Atomic force (AFM) and Kelvin force (KFM) are employed to characterize and modify both morfologic and electronic properties of (100) hydrogenated diamond surface with high lateral resolution

Mikroskopie atomární (AFM) a Kelvinovy síly (KFM) je použita k charakterizaci a modifikaci jak morfologických, tak elektronických vlastností hydrogenového povrchu (100) s vysokým laterálním rizlišením
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0118489