0025880 - FZÚ 2006 RIV US eng C - Conference Paper (international conference)
Rus, Bedřich - Jamelot, G. - Bercegol, H. - Kozlová, Michaela - Mocek, Tomáš - Homer, Pavel - Polan, Jiří - Stupka, Michal - Cassou, K. - Kazamias, S. - Klisnick, A. - Ros, D. - Danson, C. - Hawkes, S.
Advanced optical damage studies using x-ray laser interferometric microscopy.
[Pokročilé studium poškozování optických povrchů s použitím interferometrické mikroskopie a rentgenového laseru.]
Soft X-Ray Lasers and Applications /6./. Bellingham: SPIE, 2005 - (Fill, E.), s. 146-154. Proceedings of SPIE, 5919. ISBN 0-8194-5924-0. ISSN 0277-786X.
[Soft X-Ray Lasers and Applications /6./. San Diego (US), 01.08.2005-02.08.2005]
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC528; GA ČR(CZ) GA202/05/2316
EU Projects: European Commission(XE) 506350 - LASERLAB-EUROPE; European Commission(XE) HPMT-CT-2001-00263
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100523
Keywords : X-ray laser * XUV interferometry * XUV microscopy * laser-induced optical damage * fused silica
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers

We present early results of an application of X-ray laser, aimed at understanding the effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses. For the purpose of the experiment, a novel interferometric microscopy technique was designed and tested.

Představujeme výsledky pilotního experimentu s rentgenovým laserem zaměřeného na studium jevů k nimž dochází při vzniku laserem indukovaného poškození optických materiálů po ozáření sub-nanosekundovým laserem. Byla vyvinuta a otestována nová technika interferometrické mikroskopie.
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0116209