Number of the records: 1  

MDFT program: calculation of 2D and 1D diffraction patterns from electron micrographs

  1. 1.
    0020811 - ÚMCH 2006 RIV CZ eng J - Journal Article
    Šlouf, Miroslav - Synková, Hana - Baldrian, Josef
    MDFT program: calculation of 2D and 1D diffraction patterns from electron micrographs.
    [Program MDFT: výpočet 2D a 1D difrakčních obrazů ze SM mikrofotografií.]
    Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 12, č. 2 (2005), s. 85-89. ISSN 1211-5894.
    [Colloquium of Crystallographic Society : Structure. Třešť, 20.06.2005-23.06.2005]
    R&D Projects: GA ČR(CZ) GA106/04/1118
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z40500505
    Keywords : two-dimensional Fourier transform * image analysis * ultra-high molecular weight polyethylene
    Subject RIV: CF - Physical ; Theoretical Chemistry

    MDFT program, described in this work, calculates discrete Fourier transform of grayscale electron micrographs, yielding results in the form of 2D-image or 1D-graphs. Scanning electron micrographs (SEM), which showed crystalline and amorphous regions in UHMWPE polymer were processed by MDFT and long period (LP) was calculated. The values of LP from MDFT were comparable with those obtained from small-angle X-ray scattering (SAXS).

    Program MDFT, popsaný v této práci, počítá diskrétní Fourierovu transfomaci obrázku z rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM). Výsledky dává ve formě 2D-obrázku nebo 1D-grafu. Na příkladu SEM mikrofotografií zobrazujících krystalické a amorfní oblasti v polymeru UHMWPE bylo demonstrováno, že 1D-grafy vypočtené programem MDFT poskytují hodnoty dlouhé periody, které jsou srovnatelné s hodnotami ziskanými pomocí maloúhlového rozptylu paprsku X (SAXS).
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0109865

     
     
Number of the records: 1