Basket

0392043 - FZÚ 2014 RIV CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Kopeček, Jaromír
Použití difrakce odražených elektronů.
[Applications of Electron back-scattered diffraction.]
Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy. Praha: Vysoká škola chemicko-technologická,, 2012 - (Jurek, K.; Gedeon, O.), s. 204-216. ISBN 978-80-7080-834-4.
[Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy. Žd´ár nad Sázavou (CZ), 22.10.2012-25.10.2012]
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : EBSD method * scanning electron microscopy
Subject RIV: JG - Metallurgy
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0221020