Basket

0367163 - ÚPT 2012 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk
Mapping of dopants in silicon by injection of electrons.
Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2011 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 46. ISBN N.
[Mikroskopie 2011. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2011-18.02.2011]
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : mapping dopants * semiconductors
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006670