0356810 - FZÚ 2011 RIV CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
Ledinský, MartinVliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku.
[Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films.]
Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2010 - (Remeš, Z.), s. 9-12. ISBN 978-80-254-8633-7.
[Zimní odborný a vzdělávací seminář 2010. Rokytnice nad Jizerou (CZ), 11.02.2010-12.02.2010]
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Grant - others:AVČR(CZ) M100100902
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : excitation wavelength * Raman spectra
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0195237
