Basket

  1. 1.
    0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Conference Paper (Czech conference)
    Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
    Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
    Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
    [Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
    Keywords : SEM * SLEEM * UFG
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0006216
     
     

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.