Basket

0322208 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Journal Article
Sorbello, F. - Hughes, G.M. - Lejček, Pavel - Heard, P.J. - Flewitt, P.E.J.
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM.
[Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování.]
Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
R&D Projects: GA AV ČR IAA1010414
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100520
Keywords : FEG-STEM * Fe-3%Si * Thin foils * focused ion beam
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 2.067, year: 2009
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0170530