0320868 - FZÚ 2009 RIV CZ cze C - Conference Paper (international conference)
Čermák, Jan - Rezek, Bohuslav - Cimrová, Věra - Hörhold, H. H. - Ledinský, Martin - Fejfar, AntonínCharakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami.
[Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques.]
Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. Rožnov pod Radhoštěm: Czech RE Agency, 2008, s. 31-33. ISBN 978-80-254-3528-1.
[Česká fotovoltaická konference /3./. Brno (CZ), 03.11.2008-05.11.2008]
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR(CZ) GD202/05/H003
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z40500505
Keywords : AFM * KFM * Raman scattering * organic semiconductors * photovoltaics
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0169605
