Basket

  1. 1.
    0109114 - UPT-D 20040119 CZ cze K - Conference Paper (Czech conference)
    Mika, Filip
    Kvantitativní studium hustoty rozložení dopantu v polovodiči pomocí emise sekundárních elektronů.
    [Quantitative Study of Dopant Distribution in a Semiconductor Using Secondary Electron Emission.]
    PDS 2003 - Sborník prací doktorandů prezentovaných na Semináři oddělení Elektronové optiky na počátku roku 2004. Brno: Ústav přístrojové techniky, 2004 - (Müllerová, I.), s. 39 - 42. ISBN 80-239-2268-8.
    [PDS 2003 Seminář doktorandů oboru Elektronová optika. Brno (CZ), 30.01.2004]
    R&D Projects: GA AV ČR KJB2065301
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z2065902
    Keywords : Secondary Electron Emission * Dopant Distribution * Semiconductors
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0016226
     
     

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.