0101482 - UMCH-V 20043202 RIV SK cze C - Conference Paper (international conference)
Špírková, Milena - Matějíček, P. - Slepička, P.Charakterizace nanostruktur a nanočástic s využitím mikroskopie atomových sil (AFM).
[Characterization of nanostructures and nanoparticles using atomic force microscopy.]
Zborník. Bratislava: Ústav polymérov, 2004, s. 24-26.
[Slovensko-české dni o polyméroch /3./. Smolenice (SK), 26.09.2004-29.09.2004]
R&D Projects: GA AV ČR KSK4050111; GA ČR GA102/03/0449
Institutional research plan: CEZ:AV0Z4050913
Keywords : atomic force microscopy * surface morphology * nanoparticles
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0008908
