Basket

0028799 - ÚPT 2006 RIV JP eng J - Journal Article
Frank, Luděk
Noise in secondary electron emission: the low yield case.
[Šum sekundární emise elektronů při nízkém emisním výtěžku.]
Journal of Electron Microscopy. Roč. 54, č. 4 (2005), s. 361-365. ISSN 0022-0744
R&D Projects: GA AV ČR(CZ) IAA1065304
Keywords : secondary electrons * noise * SEM image noise * secondary emission noise * statistics of secondary electrons * non-Poisson factor
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 0.720, year: 2005
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0118707