Basket | The Czech Academy of Sciences

1.

0100719 - FZU-D 20040442 RIV UA eng C - Conference Paper (international conference)
Niederle, Jiří - Nikitin, A.
Extended SUSY with central charges in quantum mechanics.
[Rozšířené supersymetrie s centrálními náboji v kvantové mechanice.]
Proceedings of Fourth International Conferene "Symmetry in Nonlinear Mathematical Physics". Vol. 2. Kiev: Institute of Mathematics of NAS of Ukraine, 2002 - (Nikitin, A.; Boyko, V.; Popovych, R.), s. 497-507. Proceedings of Institute of Mathematics of NAS of Ukraine., 43. ISBN 966-02-2487-7.
[International Conference "Symmetry in Nonlinear Mathematical Physics" /4./. Kiev (UA), 09.07.2001-15.07.2001]
R&D Projects: GA AV ČR IAA1010711
Institutional research plan: CEZ:AV0Z1010920
Keywords : extended SUSY with central charges * QM system with extended SUSY
Subject RIV: BF - Elementary Particles and High Energy Physics
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0008212

2.

0308060 - MÚ 2010 RIV LT eng J - Journal Article
Rontó, András - Pylypenko, V. - Dilna, N.
On the unique solvability of a non-local boundary value problem for linear functional differential equations.
[O jednoznačné řešitelnosti nelokální okrajové úlohy pro lineární funkcionální diferenciální rovnice.]
Mathematical Modeling and Analysis. Roč. 13, č. 2 (2008), s. 241-250. ISSN 1392-6292. E-ISSN 1648-3510
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA201/06/0254
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10190503
Keywords : boundary value problem * functional differential equation * non-local condition
Subject RIV: BA - General Mathematics
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0160649

	File	Download	Size	Commentary	Version	Access
	Ronto2.pdf	1	159 KB		Publisher’s postprint	require

3.

0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
[Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
Internal code: APL-2022-11 ; 2022
Technical parameters: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
Economic parameters: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
OECD category: Materials engineering
Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0337867