Basket | The Czech Academy of Sciences

1.

0308565 - ÚPT 2008 RIV CZ cze J - Journal Article
Konvalina, Ivo - Müllerová, Ilona
Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech.
[Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 53, č. 2 (2008), s. 57-59. ISSN 0447-6441
R&D Projects: GA ČR GA102/05/2327
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : ET detector * secondary electrons * collection efficiency * electrostatic and magnetic field
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0161002

2.

0158544 - SLU-S 970003 RIV RU rus M - Část monografie knihy
Savický, Nikolaj - Karaulov, J. N. (ed.) - Ljapon, M. V. (ed.)
Pozitivnoje i negativnoje otraženije obščestva v jazyke.
Moskva: Rossijskaja akademija nauk, 1996. ISBN 5-88744-014-7. In: Slovar' - Grammatika - Tekst., s. 155-158
Grant CEP: GA ČR GA405/94/0552
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0055981

3.

0584358 - ÚFE 2024 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Jiříčková, Bára - Schreiber, Ondřej - Vařák, Petr - Grábner, Martin - Aubrecht, Jan - Peterka, Pavel
Temperature-dependence of cross-relaxation coefficient of the thulium-doped silica fibers.
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. Vol. 12573. Bellingham: SPIE, 2023 - (Kalli, K.; Mendez, A.; Peterka, P.), č. článku 125730H. ISBN 978-151066266-7. ISSN 0277-786X. E-ISSN 1996-756X.
[The International Society for Optical Engineering-Specialty Optical Fibres 2023. Praha (CZ), 24.04.2023-27.04.2023]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA23-05701S
Institucionální podpora: RVO:67985882
Klíčová slova: cross-relaxation coefficient * numerical model * spectroscopy * temperature effect * thulium * thulium-doped silica fibers
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Web výsledku:
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/12573/125730H/Temperature-dependence-of-cross-relaxation-coefficient-of-the-thulium-doped/10.1117/12.2666642.shortDOI: https://doi.org/10.1117/12.2666642
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0352278