Basket

0545622 - FZÚ 2022 RIV cze P - Patent Document
Nejdl, Jaroslav
Kompaktní systém pro charakterizaci spektra a profilu intenzity svazku krátkovlnného záření.
[A compact system for characterizing the spectrum and intensity profile of shortwave radiation beams.]
2018. Owner: Fyzikální ústav AV ČR v. v. i. Date of the patent acceptance: 14.02.2018. Patent Number: 307169
R&D Projects: GA MŠMT EF15_008/0000162
Grant - others:ELI Beamlines(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162
Institutional support: RVO:68378271
Keywords : spektrometrie * diagnostika profilu svazku * XUV * měkké RTG záření
OECD category: Fluids and plasma physics (including surface physics)
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/307/307169.pdf
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0322301