Basket

Record was added to the basket

From the basket
RIV
Bookmark
1.
0087702 - ÚJF 2008 RIV GB eng J - Journal Article
Macková, Anna - Švorčík, V. - Sajdl, P. - Strýhal, Z. - Pavlík, J. - Malinský, Petr - Šlouf, Miroslav
RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment.
[Použití metod RBS, XPS a TEM pro studium rozhraní polymeru a kovu po plasmatické úpravě.]
Vacuum. Roč. 82, - (2007), s. 307-310. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06041
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10480505; CEZ:AV0Z40500505
Keywords : Ion beam analysis
Subject RIV: BG - Nuclear, Atomic and Molecular Physics, Colliders
Impact factor: 0.881, year: 2007
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0149489
From the basket
RIV
Bookmark
2.
0486011 - ÚFP 2018 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Kredba, Jan - Lédl, Vít - Psota, Pavel - Vojtíšek, Petr
Holografické měřidlo pro free form povrchy.
[Hologaphical device for measurement of freeform surfaces.]
Internal code: DP0006-2016-FV2 ; 2016
Technical parameters: Holografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu.
Economic parameters: Měření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce.
R&D Projects: GA TA ČR(CZ) TA03010893
Institutional support: RVO:61389021
Keywords : Form measurement * digital holography * freeform surfaces * multiwavelength
OECD category: Electrical and electronic engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0280935