0385756 - ÚPT 2013 RIV CZ cze J - Journal Article
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Číp, Ondřej - Čížek, Martin
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy.
[Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. ISSN 0447-6441
R&D Projects: GA ČR GA102/09/1276; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GPP102/11/P820
Institutional support: RVO:68081731
Keywords : coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy
Subject RIV: BH - Optics, Masers, Lasers
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0215570