Basket

  1. 1.
    0476267 - OÚ 2018 RIV CN chi M - Monography Chapter
    Třísková, Hana
    Putonghua yuyin jiaoxue tanjiu.
    [A Journey through the teaching of the sounds of Standard Chinese.]
    Yanjing luntan 2014. Beijing: Social sciences academic press, 2017 - (Song, S.), s. 1-402. ISBN 978-7-5201-0005-2
    Institutional support: RVO:68378009
    Keywords : standard Chinese * Mandarin * phonetics and phonology * teaching pronunciation * learning pronunciation
    OECD category: Specific languages
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0280464
     
     
  2. 2.
    0567635 - ÚFM 2023 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
    Pokorný, Pavel - Šmíd, Miroslav - Náhlík, Luboš
    In-situ zatěžovací modul pro elektronový mikroskop.
    [In-situ loading module for scanning electron microscope.]
    Internal code: 202206 ; 2022
    Technical parameters: Vyvozená síla v rozsahu 0 - 4000 N, vyvozování síly realizováno otočením samosvorného šroubu M10 se stoupáním 0,5 mm, který tlačí na páku zatěžovacího modulu, integrované snímače síly (tenzometry) na zatěžovací páce se zapojením do plného Wheatsonova mostu (snímače síly se připojují k externímu zesilovači) s možností nastavení zátěžné síly s typickou přesností ±10 N v celém rozsahu zatížení, možnost zatěžování standardizovaného C(T) zkušebního tělesa s parametrem W = 30 mm a tělesa pro tahové/únavové testy (pás), zatěžovací modul má kompaktní rozměry 137 × 100 × 38 mm (šířka × hloubka × výška) s možností vložení modulu do typické komory SEM s dostupným minimálním prostorem 200 × 200 × 120 mm (šířka × hloubka × výška) aniž by modul překážel typicky užívaným detektorům v SEM, materiál: ocel.
    Economic parameters: Pozorování zatíženého zkušebního miniaturizovaného C(T) tělesa s únavovou trhlinou ve skenovacím elektronovém mikroskopu (SEM). V zatíženém stavu C(T) tělesa, lze sledovat důležité procesy u čela únavové trhliny, které nastávají v průběhu cyklického zatěžování.
    R&D Projects: GA TA ČR(CZ) FW03010504
    Institutional support: RVO:68081723
    Keywords : In-situ * SEM * loading module * C(T) specimen * fatigue crack
    OECD category: Audio engineering, reliability analysis
    Permanent Link: https://hdl.handle.net/11104/0338923
     
  3. 3.def.record 'I2_TF_SHORT' not found in 'CavUnTablesd'
  4. 4.
    0100014 - UPT-D 20040014 RIV IT eng C - Conference Paper (international conference)
    Bartušek, Karel - Geschneidtová, E.
    Gradient Magnetic Field Measuring Method Using MR Technique with Spin Echo Series.
    [Metody měření gradientů magnetického pole technikou magnetické resonance využívající série spinových ech.]
    PIERS 2004 - Progress in Electromagnetics Research Symposium. Pisa: University of Pisa, 2004, s. 89-92. ISBN 88-8492-268-2.
    [PIERS 2004 Progress in Electromagnetics Research Symposium. Pisa (IT), 28.03.2004-31.03.2004]
    R&D Projects: GA AV ČR IAA2065201
    Keywords : NMR * gradient magnetic field * MR tomography
    Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0007521
     
  5. 5.def.record 'I2_TF_SHORT' not found in 'CavUnTablesd'
  6. 6.def.record 'I2_TF_SHORT' not found in 'CavUnTablesd'
  7. 7.
    0344071 - BFÚ 2011 RIV US eng J - Journal Article
    Sharma, P. - Šponer, Judit E. - Šponer, Jiří - Sharma, S. - Bhattacharyya, D. - Mitra, A.
    On the role of the cis Hoogsteen:sugar-edge family of base pairs in platforms and triplets-quantum chemical insights into RNA structural biology.
    Journal of Physical Chemistry B. Roč. 114, č. 9 (2010), s. 3307-3320. ISSN 1520-6106. E-ISSN 1520-5207
    R&D Projects: GA MŠMT(CZ) LC06030; GA AV ČR(CZ) IAA400040802; GA ČR(CZ) GA203/09/1476
    Institutional research plan: CEZ:AV0Z50040507; CEZ:AV0Z50040702
    Keywords : quantum chemistry * base pairs * cis Hoogsteen/Sugar edge
    Subject RIV: BO - Biophysics
    Impact factor: 3.603, year: 2010 ; AIS: 1.331, rok: 2010
    DOI: https://doi.org/10.1021/jp910226e
    Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0005935
     
     

Metadata are licenced under CC0

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.