0322619 - ÚPT 2009 RIV CZ cze L - Prototype, f. module
Runštuk, Jiří - Neděla, VilémKomora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM.
[Chamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM.]
Internal code: HS-1 ; 2008
Technical parameters: Nově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu.
Economic parameters: Zařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny.
Institutional research plan: CEZ:AV0Z20650511
Keywords : VP-SEM * aggressive samples * chamber
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0170818
