Basket

0303669 - URE-Y 20000069 CZ cze I - Internal Report
Vaniš, Jan - Czajka, R. - Horák, Jaromír - Lošťák, P. - Karamazov, S. - Walachová, Jarmila
Charakterizace Bi₂Te₃ pomocí AFM.
[Characterisation Bi₂Te₃ with AFM.]
B.m.: [Spektroskopická společnost Jana Marca Marci], 2000. 1 s. 2. Seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii, spektroskopii a příbuzných technikách. s. 23
R&D Projects: GA ČR GA102/97/0427
Institutional research plan: CEZ:AV0Z2067918
Keywords : nanostructured materials * semiconductor materials * thermoelectric devices
Subject RIV: JA - Electronics ; Optoelectronics, Electrical Engineering
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0113857