Basket

0030688 - FZÚ 2006 RIV SK eng J - Journal Article
Hartmanová, M. - Jergel, M. - Navrátil, V. - Navrátil, K. - Gmucová, K. - Gandarilla, F.C. - Zemek, Josef - Chromik, S. - Kundracik, F.
Effect of structural imperfections on the characteristicas of YSZ dielectric layers grown by E-beam evaporation from the crystalline targets.
[Vliv strukturních poruch na vlastnosti YSZ dielektrických vrstev, připravených vypařováním krystalu pomocí elektronového svazku.]
Acta Physica Slovaca. Roč. 55, č. 3 (2005), s. 247-259. ISSN 0323-0465. E-ISSN 1336-040X
Institutional research plan: CEZ:AV0Z10100521
Keywords : yttria-stabilized zirconia * thermal barrier coatings * vacuum-deposited films * thin- films * ultra-microhardness * optical properties * vapor-deposition * silicon * conductivity * ceria
Subject RIV: BM - Solid Matter Physics ; Magnetism
Impact factor: 0.359, year: 2005
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0120399