Vyžádat soubor

Reference/citace:  ZEMEK, Josef, HOUDKOVÁ, Jana, JIŘÍČEK, Petr, IŽÁK, Tibor, KALBÁČ, Martin. Non-destructive depth profile reconstruction of single-layer graphene using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy. Applied Surface Science. 2019, 491(Oct), 16-23. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Vyžádané dokumenty:  0520350.pdf - Vydavatelský postprint
Tento vyžádaný dokument není dostupný v režimu otevřeného přístupu (open access). Prostřednictvím níže dostupného formuláře však můžete požádat autora o kopii dokumentu. Pokud bude Vaše žádost akceptována, dokument obdržíte e-mailem.