Vyžádat soubor

Reference/citace:  LORINČÍK, Jan, VESELÁ, D., VYTYKÁČOVÁ, S., ŠVECOVÁ, B., NEKVINDOVÁ, P., MACKOVÁ, Anna, MIKŠOVÁ, Romana, MALINSKÝ, Petr, BOETTGER, R. Comparison of SIMS and RBS for depth profiling of silica glasses implanted with metal ions. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2016, 34(3), 03H129. ISSN 1071-1023
Vyžádané dokumenty:  UFE 0464368.pdf - Jiná
Tento vyžádaný dokument není dostupný v režimu otevřeného přístupu (open access). Prostřednictvím níže dostupného formuláře však můžete požádat autora o kopii dokumentu. Pokud bude Vaše žádost akceptována, dokument obdržíte e-mailem.