Výsledky vyhledávání
- 1.0487882 - FZÚ 2018 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
Lutoslawski, Piotr
Nanostructured and microstructured thin foils suitable for proton generation.
Interní kód: AV17009 ; 2017
Technické parametry: Polystyrene spheres monolayer formation was prepared from 2% solution of commercially available polystyrene spheres mixed with isopropyl alcohol and ethanol in ratio 5:4:1.
Ekonomické parametry: Předkládaný funkční vzorek je využíván příjemcem a jeho hodnota nepřesahuje částku 5 mil. Kč
Grant CEP: GA MŠMT EF15_008/0000162
Grant ostatní: ELI Beamlines(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: nanostructured and microstructured thin foils * proton bunches * grating structures of thin targets
Obor OECD: Nuclear physics
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0282495 - 2.0422380 - ÚPT 2014 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Novotný, Peter - Konvalina, Ivo - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Simulation of electron trajectories in thin foils and electromagnetic fields of STEM.
Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 63.
[Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM * thin foils * electromagnetic fields * simulation of electron trajectories
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0228525 - 3.0340747 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Hanzlíková, Renáta - Frank, Luděk
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 265-270. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energy scanning electron microscopy * thin foils * transmission of very slow electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/265.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183928 - 4.0322208 - FZÚ 2009 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Sorbello, F. - Hughes, G.M. - Lejček, Pavel - Heard, P.J. - Flewitt, P.E.J.
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM.
[Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování.]
Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010414
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: FEG-STEM * Fe-3%Si * Thin foils * focused ion beam
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.067, rok: 2009
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170530