Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna-Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
    Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
    [Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
    Interní kód: APL-2020-11 ; 2020
    Technické parametry: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314400
     
     
  2. 2.
    0336643 - ÚPT 2010 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Klein, Pavel
    Manipulátor vzorku pro ultra-vysoko-vakuový rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony.
    [Specimen manipulator for the ultra-high-vacuum scanning electron microscope with slow electrons.]
    Interní kód: 5511-2 ; 2009
    Technické parametry: Vysoce stabilní manipulátor pro práci v tlaku 10E-8 Pa, plynule regulovatelné pohyby +- 5 mm v rovině v obou směrech a +- 10,5 mm ve svislém směru, přesný náklon +-5 deg ve dvou navzájem kolmých směrech, rotace +- 8 deg
    Ekonomické parametry: Funkční vzor je doprovázen kompletní výkresovou dokumentací a je experimentálně odzkoušen při dlouhodobém zkušebním provozu. Je vhodný pro UHV aparatury ke studiu čistých povrchů pevných látek.
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
    Klíčová slova: UHV specimen stage * surface analysis
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180832