Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0579480 - FZÚ 2024 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Mishra, H. - Mašek, T. - Turek, Z. - Čada, Martin - Hubička, Zdeněk - Kudrna, P. - Tichý, M.
    Investigation of Tin removal for liquid metal Tokamak divertor by low pressure argon arc with hot tungsten cathode system.
    Journal of Fusion Energy. Roč. 42, č. 2 (2023), č. článku 36. ISSN 0164-0313. E-ISSN 1572-9591
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: Tin * Argon arc * hot cathode * optical emission spectroscopy * Langmuir probe * scanning electron microscope
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 1.1, rok: 2022
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://doi.org/10.1007/s10894-023-00374-8
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0348329
     
     
  2. 2.
    0577788 - GLÚ 2024 RIV AU eng A - Abstrakt
    Bromstad, M. J. - Schuh, C. E. - Salzsauler, K. A. - Fawcett, S. - Glossop, L. N. - Hrstka, Tomáš
    Innovative applications of automated, SEM-based mineralogical analysis to acid rock drainage and metal leaching characterization.
    Proceedings of the 12th International Conference on Acid Rock Drainage. Brisbane: Sustainable Minerals Institute, 2022 - (Edraki, M.; Jones, D.; Jain, K.). s. 270-283. ISBN 978-1-74272-388-4.
    [International Conference on Acid Rock Drainage /12./. 18.09.2022-24.09.2022, online]
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/30
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:67985831
    Klíčová slova: Mineralogy * acid rock drainage * metal leaching * automated mineralogy * scanning electron microscope
    Obor OECD: Mineralogy
    https://www.inap.com.au/wp-content/uploads/ICARD-Proceedings-update-14-03-23.pdf
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0346927
     
     
  3. 3.
    0576186 - ÚTAM 2024 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Zeman, L. - Valach, J. - Zlámal, P. - Krčmářová, N. - Koudelková, Veronika - Zeman, J.
    Experimental evaluation of aluminothermic welds.
    Acta Polytechnica CTU Proceedings. Vol. 41. Prague: Czech Technical University in Prague, 2023 - (Nouzovský, L.; Drábek, M.; Richter, P.; Růžička, J.), s. 89-97. ISBN 978-80-01-07224-0. E-ISSN 2336-5382.
    [Young Transportation Engineers Conference. Prague (CZ), 24.11.2022-24.11.2022]
    Institucionální podpora: RVO:68378297
    Klíčová slova: aluminothermic reaction * train gauges * hardness * profilometry * scanning electron microscope
    Obor OECD: Materials engineering
    https://doi.org/10.14311/APP.2023.41.0089
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345780
     
     
  4. 4.
    0568406 - ÚPT 2024 RIV JO eng J - Článek v odborném periodiku
    Abu-Najm, N. A. - Shatnawi, M. T. M. - Allaham, Mohammad M. - Mousa, M. S.
    Field Electron Emission Characteristics of Tungsten–Polyethylene Composite Material As a Source of Electron Emission.
    Jordan Journal of Physics. Roč. 15, č. 5 (2022), s. 537-545. ISSN 1994-7607. E-ISSN 1994-7615
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Composite emitter * Field electron emitter * Field electron microscope * Polyethylene dielectric layer * Scanning electron microscope
    Obor OECD: Particles and field physics
    Impakt faktor: 0.7, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    https://journals.yu.edu.jo/jjp/JJPIssues/Vol15No5pdf2022/11.html
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0339717
     
     
  5. 5.
    0566540 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Mika, Filip - Krátký, Stanislav - Pokorná, Zuzana
    Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM.
    [Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM.]
    Interní kód: APL-2022-11 ; 2022
    Technické parametry: Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337867
     
     
  6. 6.
    0566395 - ÚPT 2023 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Vašina, R. - Seďa, B. - Radlička, Tomáš - Řiháček, Tomáš
    Korektor sférické vady používající čočku s grafénovou fólií.
    [Graphene Foil Lens Corrector.]
    Interní kód: APL-2022-16 ; 2022
    Technické parametry: Korektor sférické aberace a jeho integrace do mikroskopu Apreo. Jeho základní částí je elektrostatická čočka sestávající se z dvojice elektrod, na kterých lze libovolně měnit potenciál a dvou stínících elektrod. V otvoru jedné ze stínících elektrod je kruhová apertura, která je překryta tenkou grafénovou folií, která zaručuje diskontinuitu elektrostatického pole. Integrace do mikroskopu Apreo zahrnuje nový kondenzorový sytém a nový mechanizmus pro měření aberací založený na 2D pixelovém detektoru TimePix.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * corrector of sperical aberration * resolution * graphene foil * TimePix detector
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0337735
     
     
  7. 7.
    0560442 - ÚVGZ 2023 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Rewicz, A. - Kolanowska, Marta - Kras, M. - Szlachetko, D. L.
    Preliminary studies on variation in the micromorphology of the seed coat in Habenaria s.l. (Orchidaceae) and relatives.
    Botanical Journal of the Linnean Society. Roč. 200, č. 1 (2022), s. 104-115. ISSN 0024-4074. E-ISSN 1095-8339
    Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2018123
    Institucionální podpora: RVO:86652079
    Klíčová slova: 3D ultrastructure * ornamentation * scanning electron microscope (SEM) * taxonomy
    Obor OECD: Plant sciences, botany
    Impakt faktor: 2.4, rok: 2022
    Způsob publikování: Open access
    https://academic.oup.com/botlinnean/article/200/1/104/6581635?login=true
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333370
     
     
  8. 8.
    0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
    Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
    [Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
    Interní kód: APL-2021-06 ; 2021
    Technické parametry: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326134
     
     
  9. 9.
    0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
    Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
    [Extender for NiCOl column with deflectors.]
    Interní kód: APL-2021-13 ; 2021
    Technické parametry: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326003
     
     
  10. 10.
    0550696 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Vašina, R. - Seďa, B. - Radlička, Tomáš
    Korektor sférické vady používající čočku s grafénovou fólií.
    [Graphene Foil Len Corrector.]
    Interní kód: APL-2021-14 ; 2021
    Technické parametry: Korektor je zamýšlen jako součást skenovacího elektronového mikroskopu, která bude korigovat jeho sférickou vadu. Je to elektrostatická čočka sestávající se z dvojice elektrod, na kterých lze libovolně měnit potenciál dvou stínících elektrod. V otvoru jedné ze stínících elektrod je kruhová apertura, která je překryta tenkou grafénovou folií (řádově 1 - 3 atomové vrstvy grafénu), která zaručuje diskontinuitu elektrostatického pole a zároveň minimálně ovlivňuje elektrony při jejich průchodu folií. Systém je vybaven mechanismem vypékání grafénové folie.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * corrector of spherical aberration * resolution * graphene foil
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326000
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.