Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0552187 - FZÚ 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Mukhopadhyay, A.K. - Roy, A. - Bhattacharjee, G. - Das, S.C. - Majumdar, A. - Wulff, H. - Hippler, Rainer
    Surface stoichiometry and depth profile of Tix-CuyNz thin films deposited by magnetron sputtering.
    Materials. Roč. 14, č. 12 (2021), s. 1-14, č. článku 3191. E-ISSN 1996-1944
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: magnetron sputtering * Ti-Cu-N coating * N incorporation * X-ray photoelectron spectroscopy * X-ray diffraction * transmission electron microscopy
    Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
    Impakt faktor: 3.623, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327392
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0552187.pdf05.6 MBCC LicenceVydavatelský postprintpovolen
     
     
  2. 2.
    0552001 - ÚSMH 2022 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Kolářová, M. - Kloužková, A. - Stodolová, K. - Kloužek, Jaroslav - Dvořáková, P. - Kohoutková, M.
    Interaction of historical lead glazes with corrosive media.
    Ceramics - Silikáty. Roč. 65, č. 4 (2021), s. 417-426. ISSN 0862-5468. E-ISSN 1804-5847
    Institucionální podpora: RVO:67985891
    Klíčová slova: Lead glazes * Corrosion mechanism * Microscopy * Spectroscopy * Historical ceramics
    Obor OECD: Ceramics
    Impakt faktor: 0.940, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.ceramics-silikaty.cz/index.php?page=cs_detail_doi&id=1439
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327201
     
     
  3. 3.
    0551759 - ÚMCH 2022 RIV CZ eng V - Výzkumná zpráva
    Šlouf, Miroslav - Pavlova, Ewa - Strachota, Beata - Strachota, Adam - Nebesářová, Jana - Týč, Jiří - Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim
    Novel embedding resins for 3D-SEM.
    Praha: Thermo Fisher Scintific Brno, s. r. o., 2022. 22 s.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:61389013 ; RVO:60077344 ; RVO:68081731
    Klíčová slova: novel embedding resins * 3D-SEM microscopy * higher e-beam resistance
    Obor OECD: Polymer science; Biochemical research methods (BC-A); Electrical and electronic engineering (UPT-D)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0327172
     
     
  4. 4.
    0551738 - ÚFE 2022 DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Bujak, Lukasz - Holanová, Kristýna - Marín, Antonio García - Henrichs, Verena - Barvík, I. - Braun, Marcus - Lánský, Zdeněk - Piliarik, Marek
    Fast Leaps between Millisecond Confinements Govern Ase1 Diffusion along Microtubules.
    Small Methods. Roč. 5, č. 10 (2021), č. článku 2100370. ISSN 2366-9608. E-ISSN 2366-9608
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LL1602; GA ČR(CZ) GX19-27477X
    Institucionální podpora: RVO:67985882 ; RVO:86652036
    Klíčová slova: Asel * Coarse-grain model * Interferometric scattering microscopy * Energy landscape
    Impakt faktor: 14.188, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326960
     
     
  5. 5.
    0551251 - ÚFCH JH 2022 US eng J - Článek v odborném periodiku
    Cebecauer, Marek
    A Tribute to Professor Katharina Gaus.
    Frontiers in Bioinformatics. Roč. 1, DEC 2021 (2021), č. článku 801115.
    Institucionální podpora: RVO:61388955
    Klíčová slova: tribute * single molecule localization microscopy * Laurdan
    Obor OECD: Biochemistry and molecular biology
    Způsob publikování: Open access
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326694
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    0551251.pdf0537.2 KBopen accessVydavatelský postprintpovolen
     
     
  6. 6.
    0551125 - ÚPT 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna-Mikmeková, Eliška
    Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
    Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. E-ISSN 2079-4991
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 5.076, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326569
     
     
  7. 7.
    0551118 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Krzyžánek, Vladislav - Láznička, Tomáš - Kolouch, A. - Mrázová, T. - Horodyský, P.
    Detektor STEM.
    [STEM detector.]
    Interní kód: APL-2021-15 ; 2021
    Technické parametry: Retraktabilní scintilační detektor STEM je navržen pro instalaci ke skenovacím elektronovým mikroskopům (SEM) za účelem detekce signálních elektronů prošlých, resp. rozptýlených průchodem skrz tenký vzorek. Detektor obsahuje tělo detektoru s výškově nastavitelnou přírubou o průměru 158 mm s velmi jemným posuvem o maximálním rozsahu 180 mm. Detektor obsahuje dvě na sobě nezávislé jednotky, které jsou spolu pevně spojené: jedna pro detekci rozptýlených elektronů do větších úhlů (ADF, annular dark-field) a druhá pro detekci zejména nerozptýlených elektronů (BF, bright-field). Rozsah sběrných úhlů je pro ADF cca 13-280 mrad, pro BF cca do 13 mrad (přesné hodnoty závisí na přesné poloze detektoru a pracovní vzdálenosti). Každá jednotka je složena ze světlovodu, na jehož jednom konci je velmi rychlý scintilátor a na druhém konci je fotonásobič s řídící elektronikou a zesilovači signálu. Součástí STEM detektoru je Faradayova klec pro přesné měření proudu svazku dopadajícího na vzorek, který umožňuje následné kvantitativní zobrazování pomocí obou STEM segmentů ADF a BF. Funkčnost funkčního vzorku byla ověřena v SEM Magellan 400/L (Thermo Fisher Scientific) v kombinaci s externí skenovací jednotkou DISS5 (Point elektronic) na Ústavu přístrojové techniky AV ČR v Brně.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Vladislav Krzyžánek, Ph.D., vlk@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA MPO(CZ) FV30271
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM * scanning electron microscopy * electron detection * quantitative imaging
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326560
     
     
  8. 8.
    0551078 - ÚPT 2022 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Materna-Mikmeková, Eliška
    SMV-2021-67: Testování materiálů, které jsou klíčové pro boj proti pandemii (COVID-19) pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie.
    [SMV-2021-67: Testing of the materials crucial for the fight with COVID 19 pandemic using low energy electron microscopy.]
    Brno: NAFIGATE Corporation, a.s., 2021. 6 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: Nanofibers * COVID 19 * scanning low energy electron microscopy * WCA * EDX
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326430
     
     
  9. 9.
    0550790 - MBÚ 2022 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Vermeire, P.J. - Stalmans, G. - Lilina, A. - Fiala, Jan - Novák, Petr - Herrmann, H. - Strelkov, S.
    Molecular Interactions Driving Intermediate Filament Assembly.
    Cells. Roč. 10, č. 9 (2021), č. článku 2457. E-ISSN 2073-4409
    GRANT EU: European Commission(XE) 731077 - EU_FT-ICR_MS
    Institucionální podpora: RVO:61388971
    Klíčová slova: X-ray crystallography * assembly * chemical analytical cross-linking * intermediate filament * keratin * vimentin * lamin * cryoelectron microscopy
    Obor OECD: Microbiology
    Impakt faktor: 6.600, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://www.mdpi.com/2073-4409/10/9/2457
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326159
     
     
  10. 10.
    0550701 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Hrubanová, Kamila - Láznička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav - Samek, Ota
    Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách.
    [A sample holder for FIB-SEM at low temperature.]
    Interní kód: APL-2021-10 ; 2021
    Technické parametry: Kryo-držák s antikontaminátorem je navržen pro účely pozorování hluboce zamražených vzorků v rastrovacích elektronových mikroskopech (SEM) vybavených kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko). Držák je uzpůsoben pro uchycení kovových terčíků používaných v systémech pro vysokotlaké mražení High Pressure Freezing (HPF), výrobců Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) a Engineering Office M. Wohlwend GmbH (Sennwald, Švýcarsko), a to tak, aby bylo možné pozorování jak pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů, tak pro použití v mikroskopech typu FIB-SEM. Kryo-držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko), tzn. je zachována jeho kompatibilita s přenosnou tyčí transferu. Z důvodu využití pro korelativní zobrazování s Ramanovým mikrospektrometrem (InVia, Renishaw) je horní, vyměnitelná část držáku opatřena značkami (viz. Technická dokumentace). Kryo-držák umožňuje pevné uchycení dvou HPF terčíku o průměru 3 nebo 6 mm v závislosti na jeho variantě, pevné uchycení HPF terčíku je vyřešeno pomocí svěracího mechanismu a to tak, že při zašroubování stavěcího šroubu sevře stolek terčík mezi svými čelistmi. Součástí kryo-držáku je antikontaminátor – pohyblivý štít, který se při přenosu překlopí nad uchycené vzorky pomocí otočného pohybu tyčí, která je součástí transferu VCT100 (Leica microsystems).
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Cryo-SEM * Raman spectroscopy * electron microscopy * FIB-SEM
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326006