Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0549399 - ÚPT 2022 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Stopka, Jan - Zuidema, W. - Kruit, P.
    Trajectory displacement in a multi beam scanning electron microscope.
    Ultramicroscopy. Roč. 223, April (2021), č. článku 113223. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Trajectory displacement * Multi-beam electron microscope * Coulomb interactions * Slice method * Electron optics
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 2.994, rok: 2021
    Způsob publikování: Open access
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439912100019X
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0325417
     
     
  2. 2.
    0534937 - ÚPT 2021 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Stopka, Jan
    Analytical formulae for trajectory displacement in electron beam and generalized slice method.
    Ultramicroscopy. Roč. 217, OCT (2020), č. článku 113050. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: coulomb interaction * trajectory displacement * electron optics * slice method * Holtzmark regime * pencil-beam regime
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 2.689, rok: 2020
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399120302011
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0313066
     
     
  3. 3.
    0525191 - ÚPT 2021 RIV SK eng J - Článek v odborném periodiku
    Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Řiháček, Tomáš - Knápek, Alexandr - Kolařík, Vladimír
    Functional nano-structuring of thin silicon nitride membranes.
    Journal of Electrical Engineering - Elektrotechnický časopis. Roč. 71, č. 2 (2020), s. 127-130. ISSN 1335-3632. E-ISSN 1339-309X
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: membrane * nano optical device * electron optics * electron beam lithography * silicon nitride * reactive ion etching * silicon etching * microfabrication
    Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
    Impakt faktor: 0.647, rok: 2020
    Způsob publikování: Open access
    https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/2/article-p127.xml
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309382
     
     
  4. 4.
    0524976 - ÚPT 2021 RIV SG eng J - Článek v odborném periodiku
    Stopka, Jan - Kruit, P.
    Statistical Coulomb interactions in multi-beam SEM.
    International Journal of Modern Physics. A. Roč. 34, č. 36 (2019), č. článku 1942021. ISSN 0217-751X. E-ISSN 1793-656X
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: coulomb interactions * trajectory displacement * multi-beam SEM * electron optics * slice method
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Impakt faktor: 1.486, rok: 2019
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://www.worldscientific.com/doi/10.1142/S0217751X19420211
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0309187
     
     
  5. 5.
    0518486 - ÚPT 2020 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Radlička, Tomáš
    SMV-2019-64: Cs korektor realizovaný pomocí kombinace anulární a kruhové apertury.
    [SMV-2019-64: Circular annular Cs Corrector.]
    Brno: Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., 2019. 2 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: electron optics * Cs corrector * resolutions
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0303620
     
     
  6. 6.
    0508150 - ÚPT 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Radlička, Tomáš
    Correction of parasitic aberrations of hexapole corrector using differential algebra method.
    Ultramicroscopy. Roč. 204, SEP (2019), s. 81-90. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron optics * correctors * aberrations * differential algebra method
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 2.452, rok: 2019
    Způsob publikování: Omezený přístup
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S030439911930035X?via%3Dihub
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299133
     
     
  7. 7.
    0499163 - ÚPT 2019 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Radlička, Tomáš
    SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje.
    [SMV-2018-21: Calculation of electron optical properties of XPS source.]
    Brno: FEI CZECH REPUBLIC, 2018. 5 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: thermoemionic electron gun * space-charge * electron optics
    Obor OECD: Communication engineering and systems
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0291422
     
     
  8. 8.
    0491708 - ÚPT 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Radlička, Tomáš - Unčovský, M. - Oral, Martin
    In lens BSE detector with energy filtering.
    Ultramicroscopy. Roč. 189, JUN (2018), s. 102-108. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron optics * scanning electron microscopy * back scattered electrons * energy filtering
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Impakt faktor: 2.644, rok: 2018
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0285349
     
     
  9. 9.
    0487293 - FZÚ 2018 US eng A - Abstrakt
    Wunderlich, J. - Janda, T. - Roy, P.E. - Ramsay, A.J. - Otxoa, R.M. - Irvine, A.C. - Jungwirth, Tomáš - Něměc, P. - Gallagher, B. L. - Campion, R. P.
    Piezoelectric and photon helicity dependent domain wall motion driven by electrical current and optical spin transfer torques.
    IEEE International Magnetics Conference (INTERMAG 2015). Piscataway: IEEE Inc., 2015. ISBN 978-1-4799-7321-7. ISSN 2150-4598. E-ISSN 2150-4601.
    [IEEE International Magnetics Conference (Intermag) 2015. 11.05.2015-15.05.2015, Peking]
    Institucionální podpora: RVO:68378271
    Klíčová slova: electron optics * optical films * optical polarization * physics * magnetic domain walls * photonics
    Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0281947
     
     
  10. 10.
    0468460 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Radlička, Tomáš
    SMV-2016-21: DA modul pro EOD.
    [SMV-2016-21: DA modul for EOD.]
    Brno: Ing. Jakub Zlámal, Ph.D., 2016. 4 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: electron optics * differential algebraic method
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0266309