Výsledky vyhledávání
- 1.0544223 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ma, Haili - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Yin, X. - Sun, F. - Piňos, Jakub - Vaškovicová, Naděžda - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Chen, D.
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. ISSN 2574-0970
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 6.140, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321265 - 2.0493332 - ÚPT 2019 US eng A - Abstrakt
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Mikmeková, Eliška
Role of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in Low Energy Scanning Electron Microscope.
Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 24, S1 (2018), s. 638-639. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
[Microscopy & Microanalysis 2018 Meeting. 05.08.2018-09.08.2018, Baltimore]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
GRANT EU: European Commission(XE) 606988 - SIMDALEE2
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: angular distribution * backscattered electrons * low energy * SEM
Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286715 - 3.0477097 - ÚPT 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Piňos, Jakub - Mikmeková, Šárka - Frank, Luděk
About the information depth of backscattered electron imaging.
Journal of Microscopy. Roč. 266, č. 3 (2017), s. 335-342. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: backscattered electrons * information depth * penetration of electrons
Obor OECD: Materials engineering
Impakt faktor: 1.693, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0273494 - 4.0379933 - ÚPT 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Mika, Filip
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope.
Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), -, -, s. 49-50. ISBN 978-80-87441-07-7.
[International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210780 - 5.0379919 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Neděla, Vilém - Konvalina, Ivo - Lencová, B. - Zlámal, J. - Jirák, J.
New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 370:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental scanning electron microscope * detection systems * secondary electrons * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210770 - 6.0379918 - ÚPT 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Backscattered electrons in examination of materials.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 940:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscope * backscattered electrons * cathode lens
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210769 - 7.0379916 - ÚPT 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mika, Filip
Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope.
Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 410:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
[Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210767 - 8.0352422 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona - Hovorka, Miloš - Frank, Luděk
Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, s. 256-257. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA AV ČR IAA100650902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: electron microscopy * cathode lens * slow backscattered electrons * STEM * VLESTEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191930 - 9.0352416 - ÚPT 2011 RIV BR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM.
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, I3.7: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2.
[International Microscopy Congress (IMC17) /17./. Rio de Janeiro (BR), 19.09.2010-24.09.2010]
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning electron microscopy * crystallinic structure * slow backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191924 - 10.0205672 - UPT-D 20030054 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Wandrol, Petr
Angular distribution of backscattered electrons signal in Environmental Scanning Electron Microscopy.
[Angular distribution of backscattered electrons signal in Environmental Scanning Electron Microscopy.]
3. ročník přehlídky doktorských prací Elektrotechnika a informatika 2002. Plzeň: Západočeská univerzita v Plzni, 2002, s. 325 - 328. ISBN 80-7082-904-4.
[Elektrotechnika a informatika 2002. Zámek Nečtiny (CZ), 23.10.2002-24.10.2002]
Grant CEP: GA ČR GA102/01/1271; GA AV ČR IBS2065107
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: solid angle * detection * backscattered electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101285