Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0507132 - ÚPT 2020 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona
    Transmission of very slow electrons as a diagnostic tool.
    NANOCON 2013 - 5th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2014, s. 503-508. ISBN 978-80-87294-47-5.
    [International Conference NANOCON 2013 /5./. Brno (CZ), 16.10.2013-18.10.2013]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: electron microscopy * slow electrons * STEM * graphene * ultrathin tissue sections
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties); Civil engineering (BC-A)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0298349

               
     
     
  2. 2.
    0465340 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Nebesářová, Jana
    Plasma cleaning effect on the stability of the Epon resin sections.
    EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 597-598. ISBN 9783527808465.
    [EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: STEM * plasma cleaning
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
    http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5995/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263960

               
     
     
  3. 3.
    0465339 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrubanová, Kamila - Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Růžička, F. - Krzyžánek, Vladislav
    The sample preparation for cryo-SEM: the real ultrastructure of microbial biofilm or just artifacts?
    EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 203-204. ISBN 9783527808465.
    [EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA ČR(CZ) GA16-12477S
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: biofilm * Cryo-SEM * HPF
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.6907/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263955

               
     
     
  4. 4.
    0452286 - ÚPT 2016 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim - Hrubanová, Kamila - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
    Influence of ultrathin resin section aging and its reduction for imaging in the low voltage STEM.
    MC 2015. Microscopy Conference Proceedings. Göttingen: DGE, 2015, s. 817-818.
    [Microscopy Conference 2015. Göttingen (DE), 06.09.2015-11.09.2015]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: STEM * ultrathin resin
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253311

               
     
     
  5. 5.
    0452276 - ÚPT 2016 RIV HU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Kočová, L. - Nebesářová, Jana
    Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections.
    12th Multinational Congress on Microscopy. Budapest: Akadémiai Kiadó, 2015, s. 112-113. ISBN 978-963-05-9653-4.
    [MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./. Eger (HU), 23.08.2015-28.08.2015]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: STEM * mass loss * resin * Epon
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0253305

               
     
     
  6. 6.
    0434290 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrubanová, Kamila - Nebesářová, Jana - Růžička, F. - Krzyžánek, Vladislav
    Comparison of freeze fracture images of mixed bacterial/yeast biofilm in cryo-SEM with high pressure freezing fixation.
    18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
    [International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
    Grant CEP: GA MŠk ED0017/01/01; GA MŠk(CZ) LO1212; GA TA ČR TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-20012S
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: biofilm * cryo-SEM * cryo-fixation
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238375