Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0575427 - ÚPT 2024 RIV GB eng A - Abstrakt
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Daniel, Benjamin - Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Materna-Mikmeková, Eliška
    Study of Graphene by Scanning Low Energy Electron Microscopy and Time-of-Flight Spectroscopy.
    Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 29, S1 (2023), s. 1861-1862. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115.
    [Microscopy & Microanalysis 2023. 23.07.2023-27.07.2023, Minneapolis]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * time-of-flight spectroscopy * graphene
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://academic.oup.com/mam/article/29/Supplement_1/1861/7229038
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0345212
     
     
  2. 2.
    0571040 - ÚPT 2024 GB eng A - Abstrakt
    Konvalina, Ivo - Daniel, Benjamin - Zouhar, Martin - Paták, Aleš - Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Müllerová, Ilona - Materna-Mikmeková, Eliška
    Study of Graphene and Thin Foils by a Time-of-Flight Spectrometer for Low Landing Energies.
    Microscopy and Microanalysis. Cambridge University Press. Roč. 28, S1 (2022), s. 2432-2434. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    https://academic.oup.com/mam/article/28/S1/2432/6997288
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0342355
     
     
  3. 3.
    0567515 - ÚPT 2023 CZ eng A - Abstrakt
    Piňos, Jakub - Frank, Luděk
    Real Time Observation of strain in the SEM copper sample.
    16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM, 04-09 September 2022, Brno, Czech Republic. Book of abstracts. Brno: Czechoslovak Microscopy Society, 2022 - (Krzyžánek, V.; Hrubanová, K.; Hozák, P.; Müllerová, I.; Šlouf, M.). s. 351-352. ISBN 978-80-11-02253-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /16./. 04.09.2022-09.09.2022, Brno]
    Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/26
    Program: StrategieAV
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * SLEEM * deformation
    Obor OECD: Materials engineering
    https://www.16mcm.cz/wp-content/uploads/2022/09/16MCM-abstract-book.pdf
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0338768
     
     


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.