Výsledky vyhledávání

  1. 1.
    0560628 - ÚMCH 2023 RIV CZ eng L - Prototyp, funkční vzorek
    Šlouf, Miroslav - Pavlova, Ewa - Strachota, Adam - Strachota, Beata - Nebesářová, Jana - Krzyžánek, Vladislav - Skoupý, Radim
    Resin for 3D SEM.
    Interní kód: Resin3DSEM ; 2021
    Technické parametry: Technický popis výsledku je uveden ve výzkumné zprávě T841, do ASEP zadaná pod syst. č. 0551759, idendifikační kód RIV je RIV/61389013:_____/22:00551759. Zpráva je označena jako důvěrná (CONFIDENTIAL), což znamená, že je přístupná pouze na speciální vyžádání od autorů z důvodů případné budoucí patentové ochrany. Odpovědná osoba pro jednání: Miroslav Šlouf, Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i. tel: +420 296 809 291.
    Ekonomické parametry: Nový typ zalévací pryskyřice pro 3D-SEM mikroskopii se zvýšenou odolností vůči poškození elektronovým svazkem. Měl by významně usnadnit a urychlit přípravu vzorků pro 3D-SEM aplikace, zejména měření za účelem trojrozměrného zobrazení biologických vzorků.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:61389013 ; RVO:60077344 ; RVO:68081731
    Klíčová slova: novel embedding resin * 3D-SEM microscopy * biological sample preparation
    Obor OECD: Polymer science; Biochemical research methods (BC-A); Electrical and electronic engineering (UPT-D)
    Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0333862
     
     
  2. 2.
    0551565 - ÚFP 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Václavík, Jan - Veselý, Martin - Budasz, Jiří
    Spot-projektor s proměnným průměrem ohniska pro LIDT.
    [Spot-projector with variable spot diameter for LIDT.]
    Interní kód: G- TN01000008-VBE31017-1 ; 2021
    Technické parametry: Pracovní vlnová délka 515 a 1030 nm, promítaný spot s top-hat profilem o průměru 10-30 um.
    Ekonomické parametry: Zařízení slouží k testování a vývoji mikroobráběcích laserových metod. Přínos navázaným výrobním a komerčním aktivitám může být v úrovni jednotek miliónů korun.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:61389021
    Klíčová slova: LIDT * top-hat * projector * variable focal length
    Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326832
     
     
  3. 3.
    0551115 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Krutil, Vojtěch - Hanzelka, Pavel - Srnka, Aleš - Králík, Tomáš - Urban, Pavel
    Dewarova nádoba na kapalný dusík pro chlazení vzorků v elektronovém mikroskopu.
    [Liquid nitrogen Dewar vessel for cooling of samples in electron microscope.]
    Interní kód: APL-2021-07 ; 2021
    Technické parametry: Dewarova nádoba je navržena za účelem omezení ztrát kapalného dusíku (LN2) a pro snížení teploty vzorku v mikroskopu. Vnější rozměry jsou 204 mm (průměr) a 369 mm (výška). Objem nádoby s LN2 je 5,7 litru. Nominální interval doplňování LN2 při zatížení tepelným tokem z mikroskopu je 3,6 dne. Statický odpar LN2 činí 0,96 litru za den. Nádoba byla vyrobena průmyslovým výrobcem podle jeho technologických postupů a technických možností a následně vylepšena takovými technologickými a technickými zásahy, které nevyžadovaly změnu zavedených výrobních procesů.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Aleš Srnka, CSc., srnka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Dewar vessel * liquid nitrogen * sample cooling
    Obor OECD: Thermodynamics
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326550
     
     
  4. 4.
    0550826 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Mika, Filip - Pokorná, Zuzana - Dupák, Libor
    Manipulátor s mikrometrickým posuvem pro miniaturizovaný spektrometr sekundárních elektronů.
    [Manipulator with micrometric shift for a miniaturised secondary electron spectrometer.]
    Interní kód: APL-2021-06 ; 2021
    Technické parametry: Manipulátor držáku vzorku tvaru pravidelného osmihranu, kde pojezdy jsou realizovány formou tří bronzových pružin. Ty svírají mezi sebou úhel 120°, přičemž umožňují posun v rozsahu +- 1mm s přesností 10μm v každé ose nezávisle.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D., fumici@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: manipulator * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    Obor OECD: Materials engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326134
     
     
  5. 5.
    0550701 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Hrubanová, Kamila - Láznička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav - Samek, Ota
    Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách.
    [A sample holder for FIB-SEM at low temperature.]
    Interní kód: APL-2021-10 ; 2021
    Technické parametry: Kryo-držák s antikontaminátorem je navržen pro účely pozorování hluboce zamražených vzorků v rastrovacích elektronových mikroskopech (SEM) vybavených kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko). Držák je uzpůsoben pro uchycení kovových terčíků používaných v systémech pro vysokotlaké mražení High Pressure Freezing (HPF), výrobců Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) a Engineering Office M. Wohlwend GmbH (Sennwald, Švýcarsko), a to tak, aby bylo možné pozorování jak pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů, tak pro použití v mikroskopech typu FIB-SEM. Kryo-držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko), tzn. je zachována jeho kompatibilita s přenosnou tyčí transferu. Z důvodu využití pro korelativní zobrazování s Ramanovým mikrospektrometrem (InVia, Renishaw) je horní, vyměnitelná část držáku opatřena značkami (viz. Technická dokumentace). Kryo-držák umožňuje pevné uchycení dvou HPF terčíku o průměru 3 nebo 6 mm v závislosti na jeho variantě, pevné uchycení HPF terčíku je vyřešeno pomocí svěracího mechanismu a to tak, že při zašroubování stavěcího šroubu sevře stolek terčík mezi svými čelistmi. Součástí kryo-držáku je antikontaminátor – pohyblivý štít, který se při přenosu překlopí nad uchycené vzorky pomocí otočného pohybu tyčí, která je součástí transferu VCT100 (Leica microsystems).
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: Cryo-SEM * Raman spectroscopy * electron microscopy * FIB-SEM
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326006
     
     
  6. 6.
    0550700 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna-Mikmeková, Eliška
    2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
    [2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
    Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
    Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005
     
     
  7. 7.
    0550699 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Materna-Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Průcha, Lukáš - Radlička, Tomáš
    Držák fázových destiček pro čištění.
    [Phase plates holder for the cleaning procedures.]
    Interní kód: APL-2021-08 ; 2021
    Technické parametry: Funkční vzorek držáku fázových destiček se skládá se dvou přesně definovaných vyfrézovaných duralových destiček s otvory na 25 apertur, na kterých jsou fázové destičky nalepeny pastou na bázi uhlíku či speciální stříbrnou pastou používanou při přípravě vzorků do rastrovacích elektronových mikroskopů.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D. MBA, eliska@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: apertures holder * phase plates * transmission electron microscopy * cleaning
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326004
     
     
  8. 8.
    0550698 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Vašina, R. - Seďa, B. - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
    Nástavec objektivové čočky s deflektory optimalizovaný pro tubus NiCol.
    [Extender for NiCOl column with deflectors.]
    Interní kód: APL-2021-13 ; 2021
    Technické parametry: Extender je prstenec s upínacím mechanismem, který se umístí na spodní pól objektivové čočky skenovacího elektronového mikroskopu. Extender je vyroben z magneticky vodivého materiálu – permalloy Ni48. Pomocí extenderu se změní parametry magnetického imerzního pole objektivové čočky: maximální magnetická indukce a poloha tohoto maxima.Vedle změny parametrů magnetické finální čočky se také změní vlastnosti elektrostatické finální čočky. Tento prstenec je navíc vybaven deflekčními poli, pomocí nichž můžeme ovlivňovat trajektorie signálních elektronů. Pomocí extenderu je možné získat lepší laterální rozlišení a změnu v akceptaci signálních elektronů na detektorech umístěných v tubusu mikroskopu.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * compound objective lens * acceptance of signal electrons * secondary electrons * resolution * immersion field
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326003
     
     
  9. 9.
    0550697 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Sháněl, O. - Schneider, M. - Materna-Mikmeková, Eliška - Řiháček, Tomáš - Podstránský, Jáchym - Radlička, Tomáš
    Si3Nx fázová destička.
    [Si3Nx phase plates.]
    Interní kód: APL-2021-05 ; 2021
    Technické parametry: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu. Rozměr (Okénko v křemíkovém čipu) membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Tloušťka membrány je optimalizovaná tak, aby v posouvala fázi procházejícího svazku o pi/2. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm a ve středu clonky je malý otvor o rozměrech v jednotkách µm, který byl vytvořen pomoci FIB/SEM, tak aby odpovídal velikosti nultého řádu difrakce v zadní objektivové rovině.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326001
     
     
  10. 10.
    0550696 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
    Vašina, R. - Seďa, B. - Radlička, Tomáš
    Korektor sférické vady používající čočku s grafénovou fólií.
    [Graphene Foil Len Corrector.]
    Interní kód: APL-2021-14 ; 2021
    Technické parametry: Korektor je zamýšlen jako součást skenovacího elektronového mikroskopu, která bude korigovat jeho sférickou vadu. Je to elektrostatická čočka sestávající se z dvojice elektrod, na kterých lze libovolně měnit potenciál dvou stínících elektrod. V otvoru jedné ze stínících elektrod je kruhová apertura, která je překryta tenkou grafénovou folií (řádově 1 - 3 atomové vrstvy grafénu), která zaručuje diskontinuitu elektrostatického pole a zároveň minimálně ovlivňuje elektrony při jejich průchodu folií. Systém je vybaven mechanismem vypékání grafénové folie.
    Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * corrector of spherical aberration * resolution * graphene foil
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326000