Výsledky vyhledávání
- 1.0580361 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Fořt, Tomáš - Souček, P.
Prototyp optického prvku č. 1 s povrchovou úpravou.
[Prototype of optical element #1 with surface treatment.]
Interní kód: APL-2023-08 ; 2023
Technické parametry: POLYETERETERKETON (PEEK) byl použit na výrobu optické části tubusu elektronového mikroskopu. Optický prvek byl vylepšen nanesením tenké kovové vrstvy (Al, Cr, W) pomocí magnetronového naprašování.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D., MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical elements * PEEK * SEM * magnetron sputtering
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349151 - 2.0580360 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Konvalina, Ivo
Držáky pro manipulaci s optickými prvky.
[Holders for the optical elements manipulation.]
Interní kód: APL-2023-09 ; 2023
Technické parametry: Držák vzorku se skládá z podložky, na kterou se vzorek umísťuje, dále měděné čepičky na přichycení vzorku a keramického pouzdra.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům příjemce, Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Funkční vzorek byl realizován pro konkrétní zařízení, a proto nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, PhD., MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN02000020
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: sample holder * manipulation * SEM
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349150 - 3.0573414 - ÚPT 2024 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří - Hrubý, František - Materna Mikmeková, Eliška
CVD pec pro výrobu grafenu s posuvným reaktorem.
[CVD furnace for graphene fabrication with sliding reactor.]
Interní kód: APL-2023-01 ; 2023
Technické parametry: Funkční vzorek se skládá z posuvného CVD reaktoru, ovládání k CVD reaktoru, skleněné trubky, 2 průtokoměrů, digitálního měridla tlaku, CF kříže, stojanu na ocelové křížení, UHV uzávěrů, turbomolekularní vývěvy, hmotnostního spektrometru a pojízdné hliníkové podpěry.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Lukáš Průcha, prucha@isibrno.cz.
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA22-34286S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: CVD * graphene * sliding reactor * furnace
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0343864 - 4.0550700 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Konvalina, Ivo - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Materna Mikmeková, Eliška
2D detekční systém pro odražené elektrony v UHV SLEEM.
[2D detection system for reflected electrons in UHV SLEEM.]
Interní kód: APL-2021-09 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek 2D detekčního systému tvoří příruba s nosičem, na němž je uložena deska plošného spoje osazená senzorem a elektronickými součástkami. Součástí detektoru je řídící elektronika a obslužný software.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: pixelated detector * scanning * low energy electron microscopy * reflected electrons
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326005 - 5.0550699 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří - Piňos, Jakub - Průcha, Lukáš - Radlička, Tomáš
Držák fázových destiček pro čištění.
[Phase plates holder for the cleaning procedures.]
Interní kód: APL-2021-08 ; 2021
Technické parametry: Funkční vzorek držáku fázových destiček se skládá se dvou přesně definovaných vyfrézovaných duralových destiček s otvory na 25 apertur, na kterých jsou fázové destičky nalepeny pastou na bázi uhlíku či speciální stříbrnou pastou používanou při přípravě vzorků do rastrovacích elektronových mikroskopů.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Eliška Materna Mikmeková, Ph.D. MBA, eliska@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: apertures holder * phase plates * transmission electron microscopy * cleaning
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326004 - 6.0550697 - ÚPT 2022 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Sháněl, O. - Schneider, M. - Materna Mikmeková, Eliška - Řiháček, Tomáš - Podstránský, Jáchym - Radlička, Tomáš
Si3Nx fázová destička.
[Si3Nx phase plates.]
Interní kód: APL-2021-05 ; 2021
Technické parametry: Křemíkový čip nesoucí tenkou nitridovou membránu. Rozměr (Okénko v křemíkovém čipu) membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Tloušťka membrány je optimalizovaná tak, aby v posouvala fázi procházejícího svazku o pi/2. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm a ve středu clonky je malý otvor o rozměrech v jednotkách µm, který byl vytvořen pomoci FIB/SEM, tak aby odpovídal velikosti nultého řádu difrakce v zadní objektivové rovině.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Tomáš Radlička, Ph.D., radlicka@isibrno.cz.
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326001 - 7.0536664 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Konvalina, Ivo - Materna Mikmeková, Eliška - Sýkora, Jiří
Držák vzorku pro elektronově indukované čištění v REM.
[Specimen holder for the electron induced cleanning in SEM.]
Interní kód: APL-2020-11 ; 2020
Technické parametry: Funkční vzorek stolku preparátu pro rastrovací prozařovací mikroskopii s extrémně pomalými elektrony tvoří kapsle preparátu s vloženým preparátem, nosné rameno z nevodivého materiálu, držák ramene, upravený vozík stolku a přívod vysokého potenciálu. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností rekonstruovaného stolku preparátu pro mikroskop Magellan 400L, v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ilona Müllerová, DrSc., ilona@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * extremely slow electrons * specimen stage
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314400 - 8.0536583 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Krátký, Stanislav - Fořt, Tomáš - Matějka, Milan - Materna Mikmeková, Eliška - Radlička, Tomáš - Řiháček, Tomáš - Sháněl, O. - Schneider, M. - Mareček, D.
Fázová destička pro použití v transmisní elektronové mikroskopii.
[Phase plate for transmission electron microscopy.]
Interní kód: APL-2020-07 ; 2020
Technické parametry: Křemíkový čip (tloušťka 200 µm) nesoucí tenkou nitridovou membránu (tloušťka ⁓70 nm). Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm. Celý vzorek je pokoven tenkou vrstvou molybdenu (⁓3 nm).
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Stanislav Krátký, kratky@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: transmission electron microscopy * phase plate * silicon nitride * thin layers * e-beam lithography
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314347 - 9.0536443 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Radlička, Tomáš - Zobač, Martin - Vlček, Ivan - Sýkora, Jiří - Klein, Pavel - Müllerová, Ilona - Materna Mikmeková, Eliška
Elektrostatický tubus pro 2D detekci v UHV systému (mimo-osový pixelový detektor).
[Electrostatic column for 2D detection in UHV system (off-axis pixelated detector).]
Interní kód: APL-2020-06 ; 2020
Technické parametry: Funkční vzorek projekčního elektrostatického tubusu tvoří tři elektrostatické multipólové korektory, jedna rotačně symetrická elektrostatická čočka, stínítko, řídící elektronika s programovatelnými napěťovými zdroji a kabeláž. Výsledek byl realizován pro ověření elektronově optických vlastností projekčního elektrostatického tubusu v rámci programu Národního centra kompetence - projekt Centrum elektronové a fotonové optiky.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Ivo Konvalina, Ph.D., kimiki@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron microscopy * electrostatic column * multipole corrector * electrostatic lens * 2D detection
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314219 - 10.0509049 - ÚPT 2020 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Průcha, Lukáš - Piňos, Jakub - Sýkora, Jiří - Materna Mikmeková, Eliška
Termodesorpční spektroskopie v CVD zařízení pro kontrolu přípravy grafenových podložek.
[Thermal desorption spectroscopy in CVD device for the control of preparation of graphene based substrates.]
Interní kód: APL-2019-11 ; 2019
Technické parametry: Funkční vzorek se skládá z hmotnostního spektrometru, CVD pece, 2 průtokoměrů, digitálního manometru, CF kříže, stojanu na ocelové křížení, UHV uzávěrů a turbomolekularní vývěvy.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu slouží k výzkumným účelům. Nedochází k přímému prodeji vzorku. Finanční vyčíslení případné prodejní ceny vychází z nákladů na vývoj, materiál, výrobu a přiměřený zisk. Kontakt: Ing. Lukáš Průcha, prucha@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: TDS * CVD * graphene * mass spectroscopy
Obor OECD: Materials engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299850